Направление: Аттестация материалов
Лидеры направления: Егоров Ю.П., Двилис Э.С., Бурков М.В., Мировой Ю.А.
- проведение рентгенофазового и рентгеноструктурного анализов материалов (объёмных, плёнок, порошков, волокон);
- исследование элементного состава поверхности различных материалов атомно-эмиссионным спектральным методом;
- проведение сканирующей электронной микроскопии материалов (объёмных, плёнок, порошков, волокон);
- проведение электронной микроскопии для материалов (объёмных, плёнок, порошков, волокон);
- измерение удельной поверхности методом Брунауэра-Эммета-Теллера (БЭТ) различных материалов (объёмных, пористых, плёнок, порошков, волокон);
- измерение микротвёрдости различных материалов (объёмных, плёнок) методом индентирования алмазных пирамидок Виккерса, Кнупа, Берковича в диапазоне нагрузок от 0,1 до 5 мН.;
- проведение спектроскопии ядерного магнитного резонанса для различных материалов.
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100F с системой подготовки проб
Дифрактометр рентгеновский XRD-7000S
ЯМР-спектрометр NMReady-60PRO